Thiết bị siêu âm Phased Array và TFM OmniScan X3

OmniScan™ X3 64 Phased Array và TFM

Mạnh mẽ hơn – tự tin hơn

Được đặt trong lớp vỏ OmniScan X3 chắc chắn và cơ động, khả năng dựng ảnh lấy nét mạnh mẽ của OmniScan X3 64 được nâng cao với khẩu độ biến tử lớn hơn cho phép bạn khai thác triệt để các đầu dò Phased Array 64 biến tử và TFM 128 biến tử. Sử dụng hiệu suất nâng cao của thiết bị giúp đáp ứng các thách thức khi kiểm tra các vật liệu dày và có độ suy giảm cao, mở rộng tiềm năng thông qua phát triển các quy trình mới cho nhiều ứng dụng hơn.

Rõ ràng hơn – tự tin hơn

Thiết bị siêu âm khuyết tật OmniScan X3 được tích hợp các công cụ mạnh mẽ như phương pháp ma trận lấy nét hình ảnh toàn phần (TFM) và khả năng hiển thị cũng như xử lý dữ liệu nâng cao, cho phép bạn hoàn thành việc kiểm tra với độ tin cậy cao hơn.

TFM sáng tạo và hiệu quả

Xác nhận tín hiệu vùng TFM ngay khi cài đặt

Công cụ Bản đồ ảnh hưởng âm áp (AIM) cung cấp cho bạn mô hình trực quan về độ nhạy theo các chế độ TFM, đầu dò, cài đặt của bạn.

Công cụ AIM loại bỏ phỏng đoán khi lên kế hoạch quét — hình dung ngay tác động của bộ sóng (chế độ TFM), xem độ nhạy kết thúc ở đâu và điều chỉnh kế hoạch quét của bạn cho phù hợp.

4 chế độ TFM đồng thời

Tạo điều kiện thuận lợi cho đánh giá và định cỡ khuyết tật

Sử dụng các chế độ TFM khác nhau (bộ sóng) trong cùng một màn hình kiểm tra làm tăng cơ hội phát hiện các chỉ thị có hướng bất thường. OmniScan X3 cung cấp tới bốn chế độ TFM đồng thời để tạo ra hình ảnh từ các góc độ khác nhau.

Phản hồi và đặc điểm tín hiệu từ mỗi chế độ — như nhiễu xạ từ đỉnh khuyết tật, hiệu ứng bẫy góc và cấu hình khuyết tật có thể được sử dụng đồng thời để xác nhận loại khiếm khuyết và cải thiện khả năng định cỡ.