Tra cứu thuật ngữ Kiểm tra không phá hủy

All | C H K T
There are currently 6 names in this directory
Chỉ thị hạn chế các chất độ hại RoHS 2
Chỉ thị hạn chế các chất độc hại EU RoHS 2 dẫn tới 2011/65/EU các chỉ dẫn bổ xung về việc hạn chế các chất độc hại trong thiết bị điện tử (EEE). Chỉ thị này thay thế chỉ dẫn EU RoHS directive 2002/95/EC (RoHS 1) trước đó và có hiệu lực vào 21 tháng 7 2011. Giống như RoHS 1, RoHS 2 hạn chế các chất độc (chì, thủy ngân, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biphenyls, polybrominated diphenyl ethers) trong các thiết bị điện tử (EEE). So với RoHS 1, RoHS 2 không chỉ mở rộng các sản phẩm cần tuân thủ, mà còn đưa ra các giới hạn mới cho các công ty sản xuất EEE khi cần gán nhãn CE.
Chỉ thị hạn chế các chất độc hại RoHS
RoHS; Restriction Of Hazardous Substances; là tên viết tắt của Restriction Of Hazardous Substances, được dịch là Sự hạn chế các chất độc hại. Chỉ thị RoHS (2002/95/EC) được Liên minh châu Âu thông qua vào tháng 2 năm 2003 và có hiệu lực vào ngày 01 tháng 7 năm 2006, và được yêu cầu để được thi hành và trở thành luật ở mỗi nước thành viên. Chỉ thị này hạn chế việc sử dụng sáu chất độc hại trong sản xuất các loại thiết bị điện và điện tử. Nó liên quan chặt chẽ với Chỉ thị về thiết bị điện và điện tử thải loại 2002/96/EC (WEEE) đặt ra các mục tiêu cho việc thu hồi, tái chế đối với hàng hóa điện và là một phần của một sáng kiến lập pháp để giải quyết vấn đề một lượng lớn độc hại chất thải điện tử. RoHS thường được đánh vần hay phát âm là /rɒs/, /rɒʃ/, /roʊz/, /roʊhɒz/.
Huỳnh quang phân tán bước sóng tia X
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence; WDXRF Huỳnh quang phân tán bước sóng tia X (WDXRF) là một trong hai loại thiết bị huỳnh quang tia X chung được sử dụng cho các ứng dụng phân tích nguyên tố. Trong phổ kế WDXRF, tất cả các phần tử trong mẫu được kích thích đồng thời. Các năng lượng khác nhau của bức xạ đặc trưng phát ra từ mẫu được nhiễu xạ theo các hướng khác nhau bằng một tinh thể phân tích hoặc quang phổ kế đơn sắc (tương tự như lăng kính phân tán các màu khác nhau của ánh sáng nhìn thấy được theo các hướng khác nhau). Bằng cách đặt máy dò ở một góc nhất định, cường độ tia X với bước sóng nhất định có thể được thu nhận. Các phổ kế tuần tự sử dụng một máy dò chuyển động trên một giác kế di chuyển qua một phạm vi các góc khác nhau để đo cường độ của nhiều bước sóng khác nhau. Phổ kế đồng thời được trang bị một bộ hệ thống phát hiện cố định, trong đó mỗi hệ thống đo bức xạ của một nguyên tố cụ thể. Các ưu điểm chính của các hệ thống WDXRF là có độ phân giải cao (thường là 5 - 20 eV) và giảm tối thiểu sự chồng chéo phổ.
Huỳnh quang phân tán năng lượng tia X
Energy Dispersive X-Ray Fluorescence; ED XRF Huỳnh quang phân tán năng lượng tia X (EDXRF) là một trong hai loại kỹ thuật huỳnh quang tia X chung được sử dụng cho các ứng dụng phân tích nguyên tố. Trong máy quang phổ EDXRF, tất cả các nguyên tố trong mẫu được kích thích đồng thời, và máy dò phân tán năng lượng kết hợp với máy phân tích đa kênh được sử dụng để thu đồng thời bức xạ huỳnh quang phát ra từ mẫu và sau đó tách các nguồn năng lượng khác nhau của bức xạ đặc trưng từ mỗi nguyên tố khác nhau trong mẫu. Độ phân giải của các hệ thống EDXRF phụ thuộc vào detector, và thường dao động từ 150 eV - 600 eV. Ưu điểm chính của các hệ thống EDXRF là tính đơn giản, hoạt động nhanh, không có các bộ phận chuyển động và sử dụng hiệu quả nguồn bức xạ.
Kiểm tra siêu âm
Ultrasonic testing; UT; Ultrasonic evaluation; Phương pháp kiểm tra siêu âm sử dụng chùm sóng âm có tần số trên ngưỡng con người nghe được (siêu âm) được phát vào vùng cần kiểm tra. Nếu không có khuyết tật, chùm siêu âm sẽ đi thẳng, còn nếu gặp khuyết tật, chùm siêu âm sẽ phản xạ trở lại, tương tự như tiếng vọng ta nghe được từ vách núi. Thiết bị siêu âm có thể giúp ta quan sát được sóng âm phản hồi và từ đó có thể biết được khuyết tật năm ở đâu trong vật kiểm tra. Dựa vào mức độ mạnh yếu của chùm âm vọng, ta cũng có thể đánh giá được kích thước của khuyết tật.
Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X cầm tay
HHXRF; Handheld XRF XRF là từ viết tắt của phát xạ huỳnh quang tia X, một quá trình mà nhờ đó các electron bị kích thích di chuyển ra ngoài vị trí quỹ đạo nguyên tử của chúng, giải phóng một chùm năng lượng đặc trưng của từng nguyên tố cụ thể. Sự giải phóng năng lượng này sau đó được thu nhận bởi máy dò XRF sau đó phân loại năng lượng đặc trưng của từng nguyên tố. Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X cầm tay kết hợp khả năng phân tích nguyên tố nhanh, không phá hủy với các thư viện phần mềm theo từng lĩnh vực để đưa ra kết quả chính xác và kịp thời, các ứng dụng bao gồm kiểm tra thiết bị Điện tử phân tích dầu nhờn, phân tích môi trường, Khoa học hình sự, Địa chất, Khảo cổ học, Dược phẩm, Xác định chất gây ô nhiễm, RoHS, Đo độ dày đa lớp mạ, lớp phủ, Phân tích thành phần kim loại, kim loại quý (vàng, bạc…) và nhận diện nhanh hợp kim.