4 Ưu điểm của Công nghệ Axon™ trên thiết bị XRF

Huỳnh quang tia X (XRF) có thể phân tích hàm lượng hóa học của nhiều kim loại và hợp kim. Máy phân tích Vanta™ XRF là thiết bị đầu tiên của chúng tôi sử dụng công nghệ Axon, một loạt các cải tiến dẫn đến sự gia tăng đáng kể hiệu suất phân tích XRF trong 4 điểm chính như sau:

Giới hạn phát hiện thấp hơn

Công nghệ Axon cho phép các máy phân tích của chúng tôi xử lý nhiều số lượng tia X hơn. Đổi lại, số lượng tia X cao hơn dẫn đến kết quả nhanh hơn, độ chính xác tốt hơn và giới hạn phát hiện thấp hơn.

Độ phân giải cao hơn

Bằng cách giảm thiểu nhiễu điện, công nghệ Axon mang lại độ phân giải vượt trội. Điều này rất cần thiết để định lượng các nguyên tố nhẹ và kim loại quý mà trước đây máy phân tích XRF khó đo được.

Kết quả lặp lại

Thay vì sử dụng mẫu bên trong hoặc bên ngoài để hiệu chỉnh thang năng lượng của máy phân tích trong quá trình khởi động hoặc sử dụng thông thường, công nghệ Axon cho phép máy phân tích của chúng tôi tự động kiểm tra thang năng lượng trong thời gian tính theo micro giây trước mỗi lần kiểm tra. Điều này cung cấp sự ổn định; người dùng biết rằng họ sẽ nhận được cùng một kết quả cho dù đó là lần thử nghiệm đầu tiên hay lần thứ một trăm.

Năng suất hơn

Công nghệ Axon cho phép máy phân tích của chúng tôi đếm được nhiều tia X hơn trong cùng một đơn vị thời gian. Chúng tôi cũng sử dụng các thuật toán xử lý độc quyền để tối đa hóa hiệu quả của cảm biến.

Thiết bị liên quan

Trả lời