Đầu dò Phased Array mảng pha kép kiểm tra ăn mòn DLA

Đầu dò Dual Linear Array ™ để kiểm tra ăn mòn cung cấp nhiều ưu điểm so với đầu dò siêu âm thông thường. Giải pháp sử dụng đầu dò mảng kép giúp cải thiện năng suất thông qua các tính năng như độ phủ lớn hơn, tốc độ quét nhanh hơn, và hình ảnh C-scan với mật độ điểm dữ liệu tăng lên. Kỹ thuật pitch-catch được sử dụng cho phép tăng cường độ phân giải gần bề mặt và phát hiện pitting tốt hơn trong các ứng dụng khảo sát ăn mòn so với đầu dò PAUT tiêu chuẩn, tăng khả năng phát hiện các khuyết tật ăn mòn.