適切な超音波トランスデューサの選択

Name: Lựa chọn đúng đầu dò siêu âm
Brand: VISCO NDT
SKU: UT-PROBE-GUIDE
Availability: InStock
Rating: 5 (1 reviews)

Đầu dò siêu âm được sử dụng cho các ứng dụng đa dạng như phát hiện khuyết tật, đo chiều dày, nghiên cứu vật liệu và chẩn đoán y tế. VISCO cung cấp hơn 5000 loại đầu dò siêu âm với nhiều kích thước, đường kính biến tử, tần số, và cách kết nối khác nhau.

Ultrasonic probes and transducers are used for flaw detection, thickness gauging, materials research, and medical diagnostics. Our more than 4,000 transducer types include contact, dual element, shear wave, delay line, and immersion. If you don’t find what you’re looking for in our transducer catalog, we can create custom and special designs.

見積もりの連絡先

商品コード: UT-PROBE-GUIDE カテゴリー: 厚さを測定する, 膜厚測定, 腐食試験, 溶接をチェック, 高温での試験, オリンパス, 剥離の検出, 欠陥検出, 超音波（UT）, ロータリートランスデューサ超音波, TOFD タグ: emat, 虹彩, TOFD, UT

説明

Đầu dò là một trong những thành phần quan trọng nhất của bất kỳ hệ thống siêu âm nào. Cần hết sức chú ý đến việc chọn đầu dò thích hợp cho từng ứng dụng cụ thể. Các thay đổi về đặc tính và cài đặt của thiết bị cũng như đặc tính vật liệu và điều kiện tiếp xúc đóng một vai trò quan trọng trong hiệu suất của hệ thống. Cấu hình đầu dò cũng có ảnh hưởng đến hiệu suất hệ thống. Cần xem xét việc sử dụng đầu dò hội tụ, đầu dò có bề mặt chịu mài mòn thích hợp với vật liệu thử nghiệm và lựa chọn tần số và đường kính biến tử phù hợp.

Trong nhiều trường hợp, loại đầu dò được sử dụng trong một thử nghiệm cụ thể sẽ được xác định theo tiêu chuẩn kiểm tra được sử dụng hoặc theo các yêu cầu của quy trình cần tuân theo. Các tiêu chuẩn như AWS D1.1 と ASTM E-164 mô tả chi tiết các đầu dò và nêm được khuyến nghị, và trong một số trường hợp, việc lựa chọn đầu dò sẽ bị ảnh hưởng bởi các thử nghiệm đã được tiến hành trước đây để đảm bảo tính lặp lại của kết quả kiểm tra.

Nếu không có tiêu chuẩn hoặc quy trình nào được áp dụng, thì người kiểm tra phải chọn đầu dò thích hợp dựa trên các yêu cầu thử nghiệm cụ thể và sử dụng kiến thức của mình về thực hành thử nghiệm thông thường và lý thuyết kiểm tra siêu âm nói chung. Nhiều trường hợp sẽ liên quan đến việc thử nghiệm với một số loại đầu dò khác nhau trên các mẫu tiêu chuẩn tham chiếu đại diện cho chi tiết cần được thử nghiệm để xác định loại nào mang lại tín hiệu tốt nhất.

Các đầu dò được sử dụng trong phát hiện khuyết tật trong kiểm tra siêu âm thường chia thành các loại chính:

直接接触プローブ
角度プローブ
遅延ウェッジプローブ
Đầu dò biến tử kép
組み込みプローブ
Đầu dò tần số cao

Sau khi chọn loại đầu dò, các yếu tố quan trọng khác ảnh hưởng đến hiệu suất là tần số, đường kính và băng thông. Việc tối ưu hóa các yếu tố này trong một phương án kiểm tra thường đòi hỏi sự cân bằng giữa ưu và nhược điểm khi thay đổi thông số.

周波数: Các đầu dò tần số cao hơn có thể phát hiện các khiếm khuyết nhỏ hơn do bước sóng ngắn hơn, trong khi đầu dò tần số thấp hơn sẽ có khả năng thâm nhập xa hơn trong cùng một vật liệu vì độ suy giảm giảm theo tần số.
Đường kính: Đầu dò có đường kính lớn hơn có thể quét một khu vực nhanh hơn, trong khi đường kính nhỏ hơn sẽ phản hồi tốt hơn với các vật phản xạ nhỏ và tiếp xúc hiệu quả hơn với các bề mặt cong.
Băng thông: Đầu dò băng thông hẹp có khả năng thâm nhập tốt hơn nhưng độ phân giải gần bề mặt giảm, trong khi đầu dò băng rộng có độ phân giải gần bề mặt tốt hơn nhưng khả năng thâm nhập vật liệu dày kém hơn.

Chọn đúng băng thông đầu dò cho ứng dụng kiểm tra siêu âm

Băng thông, dập xung (damping) và độ phân giải trục ảnh hưởng trực tiếp đến khả năng tìm và phân giải khuyết tật
Đầu dò với độ dập xung cao tăng độ phân giải dọc trục, do đó có khả năng đo lường chính xác hơn, giúp tìm kiếm và tăng cường độ phân giải gần bề mặt

Accuscan®: Băng thông hẹp, dập xung ít

Ký hiệu bắt đầu bằng chữ あ
Độ nhạy cao nhưng phân giải dọc trục kém
Xung dài hơn do ít dập xung, băng thông hẹp tương đối
Phù hợp với các ứng dụng phát hiện khuyết tật nói chung

Videoscan®: Băng thông rộng, dập xung nhiều

Ký hiệu bắt đầu bằng chữ 描く
Đầu dò nguyên bản, dập xung nhiều với băng thông rộng
Độ phân giải dọc trục cao
Tăng tỷ số chất lượng tín hiệu và tỷ số tín hiệu/nhiễu trong các vật liệu suy giảm âm nhiều hay tán xạ nhiều.
Kiểm tra và có độ phân giải gần bề mặt tốt