Hội thảo Giải pháp bảo trì, giám sát và lập bản đồ ăn mòn từ Olympus

Thứ Tư, ngày 31 tháng 3 năm 2021 – 12:00 CH – 1:00 (Giờ Việt Nam)

Nhiều nhà máy đã được xây dựng trong khoảng 20 năm gần đây thường không có hồ sơ tài liệu về các cấu kiện. Trong thời gian ngừng vận hành, ban quản lý thường bận rộn với việc bảo trì định kỳ và không có thời gian tiến hành công việc Nhận dạng vật liệu tích cực (PMI) trên các bộ phận cũ một cách bài bản. Bất kỳ sự gián đoạn hoạt động không theo kế hoạch nào sẽ gây tổn thất lớn về doanh thu.

Do các điều kiện môi trường và hoạt động khắc nghiệt, các thiết bị công nghiệp có thể dễ bị ăn mòn. Việc không được giám sát thường xuyên có thể dẫn đến những hỏng hóc và tai nạn nghiêm trọng. Việc xác định nguyên nhân, mức độ và loại ăn mòn / vẩy đóng cặn là vô cùng quan trọng. Các kỹ thuật kiểm tra không xâm lấn như Kiểm tra siêu âm được sử dụng rộng rãi nhưng chúng có thể khá tốn thời gian và độ tin cậy do hạn chế về số lượng điểm dữ liệu thu thập được. Sử dụng các kỹ thuật siêu âm mảng pha cùng đầu dò phù hợp có thể cung cấp khả năng kiểm tra nhanh chóng và đáng tin cậy hơn rất nhiều.

Nội dung chính trong hội thảo:

• Ưu điểm của việc thực hiện Retro-PMI với Vanta ™ Handheld XRF
• Sử dụng XRD TERRA ™ cải thiện quy trình chống ăn mòn và đóng cặn
• 腐蚀测绘 sử dụng PAUT – Các giải pháp từ hệ thống quét thủ công đến hoàn toàn tự động

Người thuyết trình:

• Vincent Lee, Chuyên gia sản phẩm XRF/XRD, Olympus Singapore
• Dennis Chai, Chuyên gia ứng dụng NDT của Olympus, Olympus Singapore
• Prasanth Geddam, Giám đốc Sản phẩm cấp cao, Olympus Singapore

Thứ Tư, ngày 31 tháng 3 năm 2021 – 12:00 CH – 1:00 (Giờ Việt Nam)