コンパウンド S-スキャンを使用したスキャン プランで、溶接検査をより効率的に計画

導入

非破壊検査業界では、できるだけ迅速かつ効率的に正確な結果を得ることが重要です。溶接を検査する前に考慮すべき多くのパラメーターがあり、スキャン計画はワークフローの重要な部分です。効率的なスキャン計画を立てることで、時間を節約し、検査の品質を向上させます。可能なスキャンをスケジュールする方法に関する情報 詳細はこちらの記事をご覧ください.

スキャン計画の課題

溶接検査用のスキャン計画を作成するときの目標は、関心のある領域全体 (通常は溶接領域と熱影響領域) が超音波ビームでカバーされるようにすることです。通常、この目標を達成するには、複数のスキャン グループが必要です。溶接の角度によっては、ベベルに垂直なビームを作成することも困難な場合があります。たとえば、溶接ベベルの傾斜が 30 度の場合、60 度のビームは理論的には 90 度の入射角を生成するため、妥協のない欠陥をより適切に検出できます。理想的な入射角を実現するには、多くの場合、スキャン プラン内のプローブ数またはグループ数を増やす必要がありますが、グループまたはプローブを追加すると、複数のプローブを使用するため、スキャナーが煩雑になることがよくあります。速度。解決策: コンパウンド S-スキャン S-スキャン コンパウンド モードは、アパーチャがアクティブなリニア スキャンとファン スキャンの組み合わせを含む検査戦略を計画する際に変更する方法です。 -アングルビーム。このセットアップでは、S スキャン複合スキャンがより広いカバレッジ領域を生成し、線形スキャンとファン スキャンの 2 つのグループを置き換えます (図 1)。複合 S-スキャンは、OmniScan® マシン (バージョン 4.4 以降) で直接作成するか、NDT SetupBuilder (バージョン 1.1r2 以降) で事前に作成することができ、多くの場合、Minimum probe is 32 element を使用して最適化されます。

図 1. カバレッジ用の 2 つのファン スキャン グループは、複合 S-スキャン グループに対応します。

混合 S-スキャン技術の利点

溶接全体をカバーするのに 1 つのスキャン グループのみを使用するだけで十分であるため、ユーザーは多くの利点を得ることができます。まず、グループを 1 つだけ使用するということは、必要な校正が 1 つだけであることを意味し、テストのセットアップをより迅速に行うことができます。コンポジット S-スキャンを使用すると、完全な溶接範囲を達成するために必要な角度が減少することがよくあります。多くの場合、角度が大きいほどキャリブレーションが難しくなるため、混合 S-スキャンで高角度を減らすと、キャリブレーションがより簡単かつ迅速になります。第 2 に、スキャン グループを 1 つだけ使用することで溶接を完全にカバーできるため、同じ溶接に対する収束ルールの数を減らすことができます。音波ビームの数を減らすと、溶接範囲に影響を与えずにスキャン速度が向上します。また、ユーザーは 2 つではなく 1 つのグループを考慮するだけでよいため、分析時間も短縮されます。また、テスト画面には冗長なデータが少ないため、データの確認とカバーが容易になります (図 2)。

3 つ目の利点は、プローブから溶接の中心までの距離が短いことです。角度はトランスデューサの端の要素で作成されるため、ユーザーはプローブを通常よりも近くに配置できます。溶接部に近いということは、スキャンと溶接部の大部分が最初のスキップを使用してスキャンされることを意味し、材料の音響減衰を最小限に抑え、サイジングの精度を高め、より信頼性の高い結果を提供します。さらに、複合Sスキャンはプローブ内のすべての要素を使用するため、16:XXのようなデバイス、 オムニスキャン® SX、32 または 64 要素のプローブを使用して、溶接範囲を拡大することは引き続き可能です。

結論

ハイブリッド S-スキャンは、スキャン プランの品質を向上させるだけでなく、カバレッジの拡大、データ サイズの縮小、キャプチャ速度の向上、および機械的なセットアップ要件の軽減に役立ちます。この機能はモデルで直接使用できます オムニスキャン MX2 (バージョン 4.4 以降)、 オムニスキャン X3、 と NDT SetupBuilder (バージョン 1.1r2 以降)、ハイブリッド スキャンの設定が非常に簡単になりました。